標題：X射線能譜儀

產(chǎn)品概述

1. 探測器核心參數(shù)

?類型與結構

采用小平面型高純鍺探測器，配備厚度為0.025mm的超薄鈹窗，為低能X射線探測提供高效的窗口透過率。

?工作范圍

能量探測范圍寬廣，下限可達800eV，上限300keV，完整覆蓋從超軟X射線到硬X射線能譜分析需求。

2.電制冷裝置

?制冷技術與結構

采用脈沖管制冷技術，制冷機與探測器為一體化不可拆卸設計。

系統(tǒng)運行中無機械運動部件無磨損，且使用惰性氣體制冷劑，從根本上杜絕油污及制冷劑堵塞問題。

3.數(shù)字化多道分析器

?系統(tǒng)架構與集成

采用一體化數(shù)字電子學設計，內(nèi)置高壓發(fā)生器、放大器及多道分析器等核心模塊。

支持TCP/IP協(xié)議通信，并集成內(nèi)置WEB服務器，便于網(wǎng)絡接入與遠程控制。

?核心分析性能

ADC道數(shù)：16k道。

測量模式：支持脈沖高度分析（PHA）與多路定標（MCS）模式。

系統(tǒng)增益：增益范圍從x1.6至x360，增益段可選擇為512、1024、2048、4096、8192或16384道。

脈沖處理：脈沖對分辨率優(yōu)于500 ns；數(shù)字濾波器上升時間0.2-30μs，平頂時間0-2.8μs。

4.譜分析及獲取軟件

?核心控制與獲取功能

集成一體化譜分析軟件，可實現(xiàn)硬件控制、能譜獲取、實時顯示、數(shù)據(jù)存儲及參數(shù)設定等核心操作。